世界上最高分辨率的球差过滤分析型透射电镜揭开面纱

2009年04月07日

　　日本电子株式会社今年迎来了开业60周年庆典，随着庆祝活动大幕的徐徐拉开，最新发布的S/TEM球差过滤一体化透射电镜JEM-ARM200F也在本月开始全球接受订单。JEM-ARM200F是目前全球分辨率最高的商业化透射电镜，分辨率可达0.08nm。第一台该型号的透射电镜将安装在美国的德克萨斯大学（The University of Texas at San Antonio, Texas）由世界顶级电镜学者Miguel Yacaman主导的电镜实验室里。

　　透射电镜技术经过一段时间的积累，发生了质的飞跃。特别是最近球差过滤技术的发展可以称得上是世界上最激动人心的技术进步之一，它将在纳米技术、材料科学、制药领域、生命科学、化学等领域起到更大的推动作用。

　　日本电子株式会社以其优秀的电子光学系统从60年前一个电子光学实验室发展到全球最大的电子光学供应商，并在近20年内一直引领透射电镜技术的发展，JEM-ARM200F就是其最新的代表作。球差分为STEM球差过滤器和TEM球差过滤器两种，日本电子株式会社是目前唯一可以提供两种过滤器的生产厂家，在此之前都安装在被业界公认是最稳定的JEM-2100F场发射透射电镜上，而JEM-ARM200F则实现了球差过滤一体化控制，极大的提高了可操作性。JEM-ARM200F不仅可以获得高分辨透射电镜图像，还可以提供无与伦比的空间分辨率，可以进行原子级EDS和EELS分析。同时稳定性极高且操作极为方便。详情请咨询日本电子株式会社各地办事处。